Стаття
Оптика · Фізика хвиль · ⏱ ≈ 12 хв читання

Дифракція та інтерференція — коли світло огинає кути

Дифракція — поширення хвиль навколо перешкод і крізь отвори — це те, де геометрична оптика перестає працювати, а хвильова природа світла стає беззаперечною. Дослід Томаса Юнга з двома щілинами 1801 року зруйнував ньютонівську корпускулярну теорію світла; згодом Огюстен-Жан Френель кількісно описав його через принцип Гюйгенса-Френеля. Сьогодні дифракція задає межу роздільної здатності кожного оптичного приладу, визначає колір компакт-дисків і керує здатністю рентгеноструктурного аналізу виявляти молекулярні структури.

1. Принцип Гюйгенса-Френеля

Кожна точка хвильового фронту діє як вторинне точкове джерело сферичних хвилелетів. Амплітуда в будь-якій точці P є когерентною суперпозицією всіх вторинних хвилелетів попереднього хвильового фронту:

U(P) = (−i/λ) ∫∫ U(r') · (e^(ikr) / r) · K(θ) dS де: U(r') = поле в точці джерела r' r = відстань від точки джерела до P k = 2π/λ (хвильове число) K(θ) = фактор нахилу (≈1 для малих кутів) dS = елемент площі на отворі Цей інтеграл повністю описує дифракцію — картини на одній щілині, на двох щілинах і на круглому отворі є окремими випадками. У межі Фраунгофера (дальнє поле) це спрощується до перетворення Фур'є: U(P) ∝ F{функція отвору}, обчислене на просторових частотах (sin θ_x / λ, sin θ_y / λ)

2. Дифракція на одній щілині

Ширина щілини a, довжина хвилі λ, кут спостереження θ Інтенсивність: I(θ) = I₀ · sinc²(β) де β = (πa sinθ) / λ, sinc(x) = sin(x)/x Мінімуми (темні смуги): a·sinθ = m·λ (m = ±1, ±2, …) Ширина центрального максимуму: 2λ/a (кутова напівширина λ/a) Приклад: a = 100 мкм, λ = 500 нм Перший мінімум: sinθ = λ/a = 5×10⁻³ → θ ≈ 0,29° На екрані за 1 м: центральна смуга завширшки ≈ 10 мм Зі зменшенням a (вужча щілина) → картина РОЗШИРЮЄТЬСЯ → хвильова природа світла: вужчий отвір = більша дифракція

3. Інтерференція на двох щілинах (Юнг)

Дві щілини завширшки a, розділені відстанню d (від центру до центру), довжина хвилі λ Сумарна інтенсивність (добуток дифракційної обвідної × інтерференції): I(θ) = I₀ · sinc²(β) · cos²(δ) β = πa sinθ / λ (обвідна однієї щілини) δ = πd sinθ / λ (інтерференція двох щілин) Світлі смуги (конструктивні): d·sinθ = m·λ (m = 0, ±1, ±2, …) Темні смуги: d·sinθ = (m+½)·λ Відстань між смугами на екрані на відстані L: Δy = λL / d Відсутні смуги: якщо d/a ціле, m-й інтерференційний максимум потрапляє точно на дифракційний мінімум → ця смуга зникає. Напр. d/a = 3: кожна 3-тя світла смуга відсутня.

4. Дифракційна ґратка

N щілин з кроком d: I(θ) = I₀ · sinc²(β) · [sin(Nδ)/sin(δ)]² Головні максимуми (рівняння ґратки): d · sinθ = m · λ (так само, як на двох щілинах!) Але різкість масштабується як N²: пікова інтенсивність ∝ N², пікова напівширина ∝ 1/N → спектральна роздільна здатність зростає з N. Роздільна здатність: R = λ/Δλ = m·N (m = порядок дифракції, N = кількість ліній) Приклад: ґратка 600 ліній/мм, N=500 освітлених ліній, порядок m=2: R = 2 × 500 = 1000 → роздільна здатність Δλ = 500 нм / 1000 = 0,5 нм Може розділити натрієвий дублет (589,0 / 589,6 нм) Веселкова райдужність CD/DVD: ~1 600 борозен/мм діє як відбивна ґратка Різні довжини хвиль дифрагують під різними кутами → кольори

5. Диск Ейрі та межа роздільної здатності

Круглий отвір діаметром D: картина дальнього поля — диск Ейрі. Інтенсивність: I(θ) = I₀ · [2·J₁(x)/x]² x = π·D·sinθ / λ, J₁ = функція Бесселя першого порядку Перше темне кільце (радіус диска Ейрі): sinθ ≈ θ = 1,22 λ / D (для малого θ) Критерій Релея (два точкові джерела щойно роздільні): θ_min = 1,22 λ / D Приклади: Людське око (D≈4мм, λ=550нм): θ ≈ 1,7 × 10⁻⁴ рад → 30 кутових секунд Телескоп 100мм: θ ≈ 1,4 кутової секунди Hubble (D=2,4м, λ=500нм): θ ≈ 0,05 кутової секунди Радіотелескоп 25м (λ=1см): θ ≈ 0,05° → потребує систем антен (VLBI)

6. Режими Френеля та Фраунгофера

Число Френеля: N_F = a² / (λ·z) a = напівширина отвору, z = відстань спостереження N_F >> 1 → Френель (ближнє поле): складні викривлені смуги, край геометричної тіні N_F << 1 → Фраунгофер (дальнє поле): прості картини sinc², перетворення Фур'є Відстань переходу: z_Fraunhofer ≈ a² / λ Приклад: щілина a=1мм, λ=500нм z_F = (10⁻³)² / (5×10⁻⁷) = 2 м → Потрібно бути на відстані >2 м для картини Фраунгофера (або використати лінзу) Лінза фокусує дальнє поле у фокальній площині: навіть для близьких об'єктів лінза з фокусною відстанню f показує картину Фраунгофера в задній фокальній площині → ключовий принцип фур'є-оптики.

7. Симулятор дифракції на JavaScript

// Інтенсивність дифракції Фраунгофера для довільного 1D-отвору
// з використанням числового ДПФ (або аналітично для стандартних форм)

function singleSlitIntensity(theta, lambda, a) {
  const beta = (Math.PI * a * Math.sin(theta)) / lambda;
  if (Math.abs(beta) < 1e-10) return 1;
  const sinc = Math.sin(beta) / beta;
  return sinc * sinc;
}

function doubleSlitIntensity(theta, lambda, a, d) {
  const envelope = singleSlitIntensity(theta, lambda, a);
  const delta = (Math.PI * d * Math.sin(theta)) / lambda;
  const interference = Math.cos(delta) ** 2;
  return envelope * interference;
}

function gratingIntensity(theta, lambda, a, d, N) {
  const envelope = singleSlitIntensity(theta, lambda, a);
  const delta = (Math.PI * d * Math.sin(theta)) / lambda;
  let multi;
  if (Math.abs(Math.sin(delta)) < 1e-10) {
    multi = N * N;
  } else {
    const r = Math.sin(N * delta) / Math.sin(delta);
    multi = r * r;
  }
  return envelope * multi / (N * N); // нормалізація
}

// Генерує картину інтенсивності на екрані на відстані L
function diffractionPattern(type, params, screenW = 0.05, L = 1, nPoints = 2000) {
  const pts = [];
  for (let i = 0; i < nPoints; i++) {
    const y = (i / nPoints - 0.5) * screenW;
    const theta = Math.atan(y / L);
    let I;
    if (type === 'single')
      I = singleSlitIntensity(theta, params.lambda, params.a);
    else if (type === 'double')
      I = doubleSlitIntensity(theta, params.lambda, params.a, params.d);
    else
      I = gratingIntensity(theta, params.lambda, params.a, params.d, params.N);
    pts.push({y: y * 1000, I}); // y у мм
  }
  return pts;
}

// Приклад: ґратка 600 ліній/мм, λ=589нм, N=200 освітлених щілин
const pattern = diffractionPattern('grating', {
  lambda: 589e-9,
  a: 0.8e-6,    // ширина щілини 0,8 мкм
  d: 1/600000,   // 600 ліній/мм → d у м
  N: 200
}, 0.1, 1);
const peak = Math.max(...pattern.map(p => p.I));
console.log(`Пік при I = ${peak.toFixed(3)}`);

8. Застосування

Рентгеноструктурний аналіз

Кристалічні площини (крок d ~0,1–1 нм) діють як дифракційні ґратки для рентгенівських променів (λ~0,1 нм). Закон Брегга nλ = 2d sinθ визначає піки. Обернене перетворення Фур'є інтенсивностей піків → електронна густина → молекулярна структура.

Оптична літографія

Виробництво інтегральних схем друкує елементи за допомогою дифракційно обмеженої оптики. Роздільна здатність за Релеєм = k₁·λ/NA (NA = числова апертура). Крайнє ультрафіолетове (EUV, λ=13,5 нм) дозволяє елементи розміром 3 нм.

Голографія

Інтерференція опорного променя та розсіяного об'єктного променя записує дифракційну ґратку, яка відтворює 3D-хвильовий фронт об'єкта при освітленні. Кодуються і фаза, і амплітуда.

Спектрометри

Блискучі (блейзовані) дифракційні ґратки (з нахиленими гранями борозен) концентрують дифраговане світло в один порядок для максимальної ефективності. Ешелле-ґратки використовують високі порядки дифракції для надвисокої роздільної здатності спектроскопії.

💡 Відкрити дослід з двома щілинами →